菲希爾X射線測厚儀XDL220特點:      

◆ 具有通用應用特性的高級模式  

◆ 4 倍電子調節(jié)光圈（準直儀），6 倍電子調節(jié)初級濾光鏡 

◆ 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復雜的多元素分析

◆ 由下至上的測量方向可以簡便地實現樣品定位  

典型應用領域:  

◆ 對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能層進行分析  

◆ 示蹤原子法分析為消費者提供保護，例如，玩具中的鉛含量 

◆ 在珠寶行業(yè)和手選工段中最高精度要求的金屬合金鑒定 

◆ 在高校和工業(yè)領域中的研究