菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡介

為了使每次測量都能在條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。

菲希爾X射線測厚儀XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析