德國菲希爾 FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM 系列 X 射線熒光鍍層測厚與材料分析儀，是一款通用性強(qiáng)的能量色散 X 射線光譜儀。該系列作為成熟的 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 模型系列的升級產(chǎn)品，延續(xù)了前代設(shè)備的核心優(yōu)勢，尤其適用于無損厚度測量、薄涂層分析，以及批量生產(chǎn)零件和印制板的自動(dòng)化測量。

該系列包含三個(gè)型號：

XDLM 測量系統(tǒng)在接插件和觸點(diǎn)的鍍層測量中應(yīng)用廣泛，可精準(zhǔn)檢測各類基材上的 Au/Ni、Au/PdNi/Ni、Ag/Ni 或 Sn/Ni 等鍍層厚度。由于這類產(chǎn)品的功能區(qū)多為細(xì)小結(jié)構(gòu)（如凹槽、突起等），測量時(shí)需搭配小尺寸準(zhǔn)直器或適配樣品形狀的專用準(zhǔn)直器。例如，針對橢圓形樣品，采用開槽準(zhǔn)直器可有效提升信號強(qiáng)度，確保測量精度。