費希爾代理銷售Couloscope CMS2 STEP

費希爾代理銷售Couloscope CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀

用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量
在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了限，這就是COULOSCOPE CMS2發揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層

Couloscope CMS2 STEP測量原理
這個系列儀器根據DIN EN ISO 2177標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系菲希爾庫倫法測厚儀

菲希爾庫倫法測厚儀測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個泵攪拌電解液來使電解區域電解液平穩腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據測量區域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。

菲希爾庫倫法測厚儀

 強大并且用戶友好的 Couloscope CMS2 STEP適用于電鍍行業的生產監控和成品的質量檢驗。 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用 CMS2 簡單快速地測量。 這個方法為任何金屬鍍層提供了精確的測量。 在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多材料不需要預設定； 基材組成和幾何形狀對于測量都是無關緊要的。 常見的應用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確?？珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS）基材上，經常被用于高品質的浴室用品，也可以用這個方法進行測量。 常見應用有金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層、單層或多層的鍍層厚度測量、特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量、適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量。

駿展儀器產品覆蓋長度測量儀器,光學儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經為許多國內外大中型企業提供服務,優良的品質和完善的服務,贏得了客戶的*,并建立了一個穩固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務。擁有長期致力于行業的高科技人才和高效的管理團隊，人才是公司立足根本保證，也是公司未來發展的堅實基礎，是公司更寶貴的財富。

菲希爾SIGMASCOPE SMP350非鐵磁性金屬電導率儀特性：
快速、無損地準確測量有色金屬的電導率，符合 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 標準
適用于各種應用的電導率探頭
根據探頭，針對不同滲透深度提供不同測量頻率（范圍為 15 kHz 至 1 MHz）
針對已知曲率直徑的自動曲率補償（蕞小直徑低至 6 mm）
我們提供經過認證的測量標準（以 MS/m 計，%IACS），可追溯至校準標準