BYK4564光澤度儀

能測涂層厚度的BYK4564光澤度儀技術參數(shù)

測量范圍:0-2000GU

BYK4564重復性:0-100GU ±0.2GU;100-2000GU ±0.2%

BYK4564重現(xiàn)性:0-100GU ±0.5GU;100-2000GU ±0.5%

光譜敏感度:CIE standard observer for illuminant CIE-C

測量時間:0.5秒/每一角度

厚度

底材:Fe: 磁性 NFe: 非磁性

測量范圍:0 - 500 μm (0 - 20 mils)

精度:± (1.5 μm +2% 測量值)

內(nèi)存:999個讀數(shù)包括日期和時間

接口:USB

電源:一節(jié)1.5v堿性5號電池可測4,000次或使用USB端口

尺寸:155x73x48mm

重量:0.4kg

操作溫度:15-40℃

相對濕度:高達85%，不結露

BYK4564光澤度儀

能測涂層厚度的BYK4564光澤度儀可在幾秒內(nèi)在同一個測量點上同時測量這兩個參數(shù)，您還在拿著一臺光澤度儀和一臺涂層測厚儀分別進行測試嗎？你能夠定位到同一個測試點嗎？使用BYK4564微型三角度光澤度儀 µ可避免此情況，磁性/非磁性兩用型探頭，不管是鋼或鋁基材，涂層厚度都能夠一鍵輕松搞定！！！