菲希爾校準片測厚儀可用江蘇辦事處

菲希爾校準片測厚儀可用江蘇辦事處

我們常說的50，100都是標稱值，實際數值會有上下波動，以膜片標簽為準。

校準膜片厚度為22μm左右，實際數值以膜片標簽為準。

校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。說明：校準將刪除內存中的所有讀數。

校準儀器（前提：儀器必須打開）

1.按[CAL]鍵。

"Base" (即 “未鍍過的底材")

2.在底材上測量五次左右.每次測量后，會顯示當前的讀數。

3.按[OK]鍵. 

顯示 0.00 和STD1 (即校準標準片 # 1).

4.把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。每次測量后，屏幕上會顯示當前讀數。

5.用[▲] 或[▼]鍵調整第4步的未尾一個數值至標準片的標稱值，如“75 µm"。標準片的標稱值注明在標準片上。

6.按 [OK]鍵。 

菲希爾Dualscope MP0測厚儀特性：

由于極為耐用的儀器構造，即使在簡陋的環境條件下也可進行可靠的測量

借助兩個獨立樞軸與發光顯示屏，即使在難以觸及的測量點也可進行簡單操作

測量符合標準，具有適用于 IMO PSPC 與 SSPC-PA2 的特殊模式

由于設備的結構緊湊以及直觀的單手操作概念，可快速、重復進行準確測量

Dualscope MP0測厚儀應用：

PERMASCOPE用于鋼和鐵上的涂鍍層

ISOSCOPE用于鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層

DUALSCOPE用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層，無需更換儀器

非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級涂鍍層

鋼鐵上由非鐵磁性金屬制成的厚涂層或保護涂鍍層

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您現在可以更高精度和更快速度完成測量。與GOLDSCOPE SD 520和SD 550，這些儀器都配備了*由Fischer自主研發的最新數字脈沖處理器DPP+。通過將新處理器與同樣新獲得的擁有更大有效面積(50 mm2)的硅漂移探測器相結合，可獲得并處理更多的信號，同時還能保證能量分辨率。因此，您的收益是：最多可縮短2/3的測量時間，或者減少絕對標準偏差最高達45%。